基于TLP建模的系统级静电放电效应仿真

摘要:系统级静电放电(ESD)效应仿真可以在电子系统进行测试之前进行有效的静电放电效应防护,缩短研发周期。根据传输线脉冲测试(TLP)结果,对瞬态电压抑制(TVS)二极管和芯片引脚进行spice行为建模,结合ESD脉冲源的等效电路模型,PCB板的S参数模型,采用场路协同技术完成了系统级静电放电效应的仿真。针对一个典型的电子系统,在IEC 61000-4-2 ESD应力作用下,完成了一款开关芯片防护电路的仿真,并对电路进行了加工、放电测试,仿真与测试芯片引脚的电压波形吻合良好,验证了该仿真方法的有效性。

关键词:
  • 静电放电  
  • 传输线脉冲测试  
  • tvs二极管  
  • spice模型  
  • 场路协同仿真  
作者:
陈强; 徐可; 陈真真; 陈星
单位:
四川大学电子信息学院; 成都610065
刊名:
强激光与粒子束

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期刊名称:强激光与粒子束

强激光与粒子束杂志紧跟学术前沿,紧贴读者,国内刊号为:51-1311/O4。坚持指导性与实用性相结合的原则,创办于1989年,杂志在全国同类期刊中发行数量名列前茅。