FIB-TOF-SIMS联用技术在矿物学研究中的应用

摘要:基于聚焦离子束扫描电子显微镜的飞行时间二次离子质谱联用技术同时具备了聚焦离子束高空间分辨率以及飞行时间二次离子质谱轻元素、同位素分析以及较低的元素检出限的优势。可以实现:扫描电镜下原位分析H、Li、Be、B等轻元素;元素分布的纳米级横向空间分辨率;元素三维空间分布。能够同时得到纳米级矿物的形貌、元素组成以及元素空间分布信息,该技术在地学领域有广阔的应用前景。

关键词:
  • 飞行时间二次离子质谱  
  • 聚焦离子束扫描电镜  
  • 元素三维空间分布  
  • 轻元素分析  
  • 纳米级空间分辨率  
作者:
王涛; 葛祥坤; 范光; 郭冬发
单位:
核工业北京地质研究院; 北京100029
刊名:
铀矿地质

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期刊名称:铀矿地质

铀矿地质杂志紧跟学术前沿,紧贴读者,国内刊号为:11-1971/TL。坚持指导性与实用性相结合的原则,创办于1962年,杂志在全国同类期刊中发行数量名列前茅。